薄膜測厚儀是一種用于測量薄膜、紙張等材料厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中，這種測厚儀常用于連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度，以確保產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率。
薄膜測厚儀的接觸式和非接觸式在以下方面存在區(qū)別：
應用范圍：接觸式薄膜測厚儀主要針對薄膜、隔膜以及紙張等非金屬材料實現(xiàn)厚度測量。而非接觸式薄膜測厚儀除了對非金屬材料實現(xiàn)厚度測量以外，同時還可以對金屬箔片實現(xiàn)測量，在應用上更加具有廣泛性。
測量原理：接觸式薄膜測厚儀通過自動和手動的相互協(xié)助實現(xiàn)有效地控制，利用配置標準量塊起到的作用，確保測試數(shù)據(jù)的一致性。非接觸式測厚儀在其使用中，主要是利用激光傳感器實現(xiàn)厚度測量，將被測物放在兩個激光傳感器的中間，為避免測試過程中出現(xiàn)晃動，需要將傳感器固定在支架上，另外未確保測量數(shù)據(jù)的精準性，還需要檢查傳感器發(fā)出的激光是否對準同一個點，確認檢查無誤之后，便可以采樣檢查。
總的來說，接觸式和非接觸式薄膜測厚儀在應用范圍和測量原理上存在差異。具體選擇哪種類型的測厚儀取決于被測材料的性質(zhì)、測量精度要求以及設備預算等因素。
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